![]() 重複ポリトープを介した幾何学的要素による点の順序集合の近似
专利摘要:
それぞれが基準点と付随する許容偏差とを含む物理的な点の順序集合が、パラメトリック空間内でポリトープを交差させる方法によって決定された幾何学的要素のシーケンスによって近似される。物理的な点の第1のサブグループを接続する幾何学的要素の第1の束が生成され、第1のポリトープに写像される。物理的な点の第2のサブグループを接続する幾何学的要素の第2の束が生成され、第2のポリトープに写像される。第1のポリトープと第2のポリトープとの間の交差がヌルでない場合は、交差領域内の点は、結合された2つのサブグループ内の物理的な点を近似する幾何学的要素に対応する。この工程は、さらなるサブグループに対して反復して繰り返される。最終交差領域の中心点は、幾何学的要素の最良適合近似に対応する。 公开号:JP2011510421A 申请号:JP2010544311 申请日:2009-01-20 公开日:2011-03-31 发明作者:ロギノフ,イゴール,ヴァディモビッチ 申请人:トップコン ジーピーエス,エルエルシー; IPC主号:G06T11-20
专利说明:
[0001] 本発明は、一般に幾何学的要素の配列による点の順序集合の近似に関し、より詳細には、各点の位置が非ゼロ精度で決定される点の順序集合の近似に関する。] 背景技術 [0002] 様々な応用分野で、幾何学的特徴は、点の順序集合として表現され得る。国土調査において、道路、河川、および領土の境界は、点の順序集合で表され得る。コンピュータビジョンシステムにおいて、対象物の境界は、点の順序集合で表され得る。デジタルイメージプロセッシングにおいて、イメージ内の対象物の輪郭は、点の順序集合(ピクセル)で表現され得る。未処理の点の集合を解析するには、強力なプロセッサ、大規模なメモリ、および複雑なアルゴリズムを有するコンピュータシステムが必要である。幾何学的要素の配列を有する点の集合を近似することによって、より効率的な解析が遂行され得る。例えば道路は、セグメントの連鎖(シーケンス)としてモデル化され得る。基本セグメントは、直線セグメントと円弧とを含む。必要であれば、隣接するセグメント間を滑らかに推移するために、さらに複雑な幾何学的曲線が使用され得る。より効率的な解析に加えて、幾何学的要素の配列による近似によって、データ圧縮のための機構が与えられる。未処理の点の集合は、一層小さい幾何学的パラメータの集合によって特徴付けられ得る。例えば、直線セグメント上に含まれる点の配列は、そのセグメントの2つの終点の座標で特徴付けられ得る。同様に、円弧上に含まれる点の配列は、円弧の2つの終点の座標と円弧上にある第3の点の座標で特徴付けられ得る。] 発明が解決しようとする課題 [0003] 点は幾何学的抽象化であることに注意されたい。現実の応用においては、具体的な位置は非ゼロ精度内で決定され得る。国土調査において、例えば、精度は測定システム(およびその他の因子)の分解能と誤差の関数である。デジタルイメージシステムにおいて、精度はデジタルイメージのピクセル寸法(およびその他の因子)の関数である。データ圧縮において、精度は(ユーザ定義された)許容できる情報の損失の値の関数であり、圧縮率(およびその他の因子)で記述することができる。必要とされるものは、各点の位置が非ゼロ精度を有し、幾何学的要素の配列を持つ点の順序集合を近似する方法である。] 課題を解決するための手段 [0004] 本発明の一実施形態において、物理的空間内の物理的な点の順序集合の近似は、パラメトリック空間内でポリトープを交差させる方法で実行される。各物理的な点は、基準点と付随する許容偏差とを含む。物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第1のサブグループを接続する幾何学的要素の第1の束が生成される。第1の束内の各幾何学的要素の、第1のサブグループ内の各基準点からの偏差は、第1のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えない。次に第1の束は、パラメトリック空間内の第1のポリトープに写像され、第1の束内の各幾何学的要素は、第1のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像される。物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第2のサブグループを接続する幾何学的要素の第2の束が生成される。第2の束内の各幾何学的要素の、第2のサブグループ内の各基準点からの偏差は、第2のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えない。次に第2の束は、パラメトリック空間内の第2のポリトープに写像され、第2の束内の各幾何学的要素は、第2のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像される。第1のポリトープと第2のポリトープとの間の交差がヌルでない場合は、交差領域内の点は、結合された2つのサブグループ内の物理的な点を近似する幾何学的要素に対応する。交差領域の中心は、最初の2つのサブグループ内の物理的な点を近似する幾何学的要素の最良適合近似に対応する。 本発明の、これらのおよびその他の利点は、下記の詳細な説明および添付する図面を参照することによって、当業者に明らかになるであろう。] 図面の簡単な説明 [0005] 直線セグメントの束で接続された2つの物理的な点の物理的空間内におけるプロットを示す図である。 2つの直線セグメントの束で接続された3つの物理的な点の物理的空間内におけるプロットを示す図である。 物理的空間内における4つの点のうち、第1の円弧の束で接続された最初の3つの点のプロットを示す図である。 物理的空間内における4つの点のうち、第2の円弧の束で接続された残りの3つの点のプロットを示す図である。 パラメトリックな点に写像された、2つのポリゴンを形成する直線セグメントの2つの束の、パラメトリック空間内におけるプロットを示す図である。 円弧に対応する円の中心点に写像された、物理的空間内の円弧のプロットを示す図である。 円弧に対応する円の中心点に写像された、2つの円弧の束の物理的空間内におけるプロットを示す図である。 直線セグメントと円弧との接続された配列によって近似された、物理的な点の複雑な順序集合の例を示す図である。 本発明の一実施形態に従った、物理的な点の順序集合を近似する最良適合近似の直線セグメントを決定するためのステップの流れ図である。 コンピュータの高いレベルの概略図である。 可動型GPS受信機による物理的な点の順序集合の測定を示す図である。 誘導制御システムに誘導される車両の概略を示す図である。] 実施例 [0006] 現実空間(物理的空間とも呼ばれる)における位置は基準座標系に対する点の座標で規定することができる。例えば、標準的な直角X−Y−Z基準座標系に対して、点Pは座標(xP,yP,zP)で表され得る。数学的な点は無次元である。しかし実際には物理的な点は空間的に分布しており、すなわち物理的な点の位置は非ゼロ範囲内で決定され、それは、測定システムの分解能および安定度、ならびに環境条件(これには、温度、湿度、衝撃、および振動を含む)などの複数の因子に依存することがある。いくつかの測定システムに対して、熱的ノイズ、電磁的ノイズ、および電磁的干渉が働くこともある。物理的な点Pは座標(xP±ΔxP,yP±ΔyP,zP±ΔzP)で表すことができ、ここで(ΔxP,ΔyP,ΔzP)は精度を表し、(xP,yP,zP)は精度と一緒に決定され得る。一般に(ΔxP,ΔyP,ΔzP)は一定値でなく、(xP,yP,zP)とともに変化し得る。したがって2次元では、物理的な点Pは、矩形の範囲(xP±ΔxP,yP±ΔyP)で表すことができる。同様に3次元では、物理的な点Pは、直角プリズム(xP±ΔxP,yP±ΔyP,zP±ΔzP)で表すことができる。] [0007] 本発明の一実施形態において、座標を適切なリニアスケールとすることよって、スケール付き座標系内のほぼすべての点に対してΔxP=ΔyP=ΔzPとすることができるので、精度は等方性と考えられる。スケーリングされない場合は、各物理的な点Pに対して、値ΔxP、ΔyP、およびΔzPはすべて(ΔxP,ΔyP,ΔzP)の最小値に設定され得る。したがって、物理的な点Pは2次元では円形の範囲で、3次元では球形で表され得る。2次元では物理的なPは、[PP(xP,yP),RP]で表すことができ、ここでPP(xP,yP)は円の中心点であり、RPは円の半径である。同様に3次元では、物理的なPは、[PP(xP,yP,zP),RP]で表すことができ、ここでPP(xP,yP,zP)は球の中心点であり、RPは球の半径である。ここでPPは物理的な点Pの対応基準点とも呼ばれ、RPは物理的な点Pに付随する許容偏差とも呼ばれ基準点PPに付随するものである。基準点および許容偏差は、様々な手段で決定することができる。例えば、基準点は単一計器の読み値であってよく、許容偏差は較正手順で規定された精度であってよい。基準点および許容偏差は、複数の測定を行って統計的に決定することもできる。例えば、基準点は平均値または中央値によって規定することができ、許容偏差は標準偏差によって、または極値によって規定することができる。] [0008] 本発明の一実施形態において物理的な点の順序集合は、それぞれ対応基準点および付随する許容偏差を有し、直線セグメントおよび円弧のような簡単な幾何学的要素の連鎖(シーケンス)によって近似することができる。適用対象によって一層複雑な曲線を使ってもよい。連鎖の中で各要素は連続した物理的な点の最大の数を近似し、それによって各要素の各物理的な点からの偏差が物理的な点に付随する許容偏差内になるようにする。本明細書では、要素の物理的な点からの偏差は、要素の物理的な点に対応する基準点からの偏差を指す。本明細書では、単一の要素で近似された物理的な点のグループは、その要素に付随する物理的な点のサブグループを指す。] [0009] 同じサブグループの物理的な点は、複数の要素で近似され得る。本明細書では、同じサブグループを近似し得る要素の集合は要素の束を指す。本明細書では、束内の要素は関連する束のメンバ要素を指す。各メンバ要素は同じ形状を有するが、幾何学的パラメータは異なる。例えば、束が直線セグメントの集合を含む場合、各メンバ要素は異なる値の傾きおよび切片を有し得る。束が円弧を含む場合は、各メンバ要素は異なる中心点および半径を有し得る。] [0010] 本発明の一実施形態において、束内の各メンバ要素はパラメトリックな点に写像される。直線セグメントに対して、ユーザ規定のパラメトリック座標を有する、ユーザ規定のパラメトリック空間に、パラメトリックな点が定義される。したがって束は物理的空間内の要素のマニホルドであり、要素のマニホルドはパラメトリック空間内のパラメトリックな点のマニホルドに写像され得る。検討および図面を簡潔にするために、例には2次元空間が使用される。3次元空間に対する実施形態は、2次元空間に対する詳細な例が示された後でまとめられる。2次元において、パラメトリックな点のマニホルドは、2次元パラメトリック空間内に領域を形成する。本発明の一実施形態において、この領域はポリゴンで近似され、ポリゴン内のすべての点はパラメトリック空間からのパラメトリックな点のマニホルドのメンバである。] [0011] 直線セグメントを含む要素の例を、図1、図2、図4、および図7を参照して最初に検討する。円弧を含む要素の例は、図3A、図3B、図5A、および図5Bを参照してその次に検討する。] 図1 図2 図3A 図3B 図4 図5A 図5B 図7 [0012] 図1は、隣接する2つの物理的な点P1 106(基準点P1 102、および半径R1 104を有する)、およびP2 146(基準点P2 142、および半径R2 144を有する)を含む単純な幾何学的構成を例示するものである。点の座標は、物理的空間内のX軸101、およびY軸103に関して測定される。半径R1 104は、基準点P1 102からの許容偏差を表し、半径R2 144は、基準点P2 142からの許容偏差を表す。物理的な点P1 106と物理的な点P2 146は、直線セグメントの束B191で接続されている。束B191の外側境界は直線セグメントL1 121および直線セグメントL2 122である。直線セグメントL3 123および直線セグメントL4 124は、傾きの範囲の境界を画定する直線セグメントである。] 図1 [0013] 図2には、3つの物理的な点がP1 206(基準点P1 202および半径R1 204を有する)、P2 246(基準点P2 242および半径R2 244を有する)、およびP3 286(基準点P3 282および半径R3 284を有する)の順にある。物理的な点P1 206および物理的な点P2 246は、直線セグメントの第1の束B1 291で接続されている。束B1 291の外側境界は、直線セグメントL1 221、および直線セグメントL2 222である。直線セグメントL3 223、および直線セグメントL4 224は、束B1 291内の傾きの範囲の境界を画定する直線セグメントである。同様に、物理的な点P2 246および物理的な点P3 286は、直線セグメントの第2の束B2 292で接続されている。束B2 292の外側境界は、直線セグメントL5 225、および直線セグメントL6 226である。直線セグメントL7 227、および直線セグメントL8 228は、束B2 292内の傾きの範囲の境界を画定する直線セグメントである。] 図2 [0014] 物理的空間(図2)内で、各束内の直線セグメントは一般的な線形方程式の集合によって定義された直線に含まれる。 A*x+B*y+C=0 (E1) ここで、A、B、Cは線形係数である。 図4はユーザ定義されたパラメトリック空間内の対応するプロットの例を示す。図4に示された実施形態において、水平軸(横軸)は(C/B)401であり、垂直軸(縦軸)は(A/B)403である。パラメトリック空間内の点Pの座標は、[(C/B)p,(A/B)p]である。図4の縦軸は細部を十分に示すために10倍の比率になっていることに注意されたい。図4において、プロットされた各パラメトリックな点は、図2の直線セグメントに対応する。 P1 421←→L1 221 P2 422←→L2 222 P3 423←→L3 223 P4 424←→L4 224 P5 425←→L5 225 P6 426←→L6 226 P7 427←→L7 227 P8 428←→L8 228] 図2 図4 [0015] 頂点P1 421、P2 422、P3 423、およびP4 424で定義されるポリゴンS1 441は(図4)、物理的な点P1 206と物理的な点P2 246を接続する、直線セグメントの束B1 291に対応する(図2)。すなわち、ポリゴンS1 441内の各点は、束B1 291内の直線セグメントに対応する。同様に、頂点P5 425、P6 426、P7 427、およびP8 428で定義されるポリゴンS2 442は(図4)、物理的な点P2 246と物理的な点P3 286を接続する、直線セグメントの束B2 292に対応する(図2)。すなわち、ポリゴンS2 442内の各点は束B2 292内の直線セグメントに対応する。図4において重複領域σ443は、ポリゴンS1 441とポリゴンS2 442との間の交差を表す。したがって重複領域σ443内の各パラメトリックな点は、物理的な点P1 206、物理的な点P2 246、および物理的な点P3 286を接続する直線セグメントに対応する(図2)。各直線セグメントの各基準点P1 202、基準点P2 242、および基準点P3 282からの偏差は、各基準点に付随する許容偏差以下である。] 図2 図4 [0016] 本工程は、図7の流れ図に示すように、追加の隣接する物理的な点に対して繰り返すことが可能である。本工程への入力702は、物理的な点の集合順序集合Pi,i=1・・・N,N≧3である。物理的な点Piは対応する基準点Pi、および付随する許容偏差(半径)Riで表される。ステップ704で束B1が生成され、パラメトリック空間内のポリゴンS1に写像される。 B1→S1 束B1は、物理的な点P1と物理的な点P2を接続する直線セグメントの集合を含み、基準点P1からの各直線セグメントの偏差が許容偏差R1以下であり、基準点P2からの各直線セグメントの偏差が許容偏差R2以下であるようにする。] 図7 [0017] ステップ706で初期交差領域σ1はS1の値を指定される。添字jは値2に初期化される。添字jは1対の点(Pj,Pj+1)を接続する直線セグメントの束の添字であるから、jの最大値は(N−1)である。ステップ708で束Bjが生成され、パラメトリック空間のポリゴンSjに写像される。 Bj→Sj ステップ710で交差σjは、σj−1とSjの交差として定義される(σj−1∩Sjと表示される)。 σj=σj−1∩Sj] [0018] 工程は次にステップ712に移り、そこで交差σjはチェックされてそれがヌルであるか決められる。交差σjがヌルの場合は、工程はステップ714に移り、そこで前の非ゼロ交差を示すために最終添字fは値(j−1)として定義される。工程は次にステップ714からステップ722に移るが、それについては以下でさらに検討する。ステップ712で交差σjがヌルでない場合は、工程は次にステップ716に移る。ステップ716で添字jがチェックされ、点の集合(入力702)の全N点が処理されたか判定される。全N点が処理された場合は、工程は次にステップ718に移り、そこで最終添字fは値jに決められる。工程は次にステップ718からステップ722に移る。全N点が処理されていない場合(ステップ716)は、工程は次にステップ720に移り、そこで添字jは1だけ増加され、そのときの非ヌル交差を示す。] [0019] ステップのシーケンス(ステップ708、ステップ710、ステップ712、ステップ716、およびステップ720)は、新しい交差がヌルになる(ステップ712)か、または全N点が処理される(ステップ716)まで繰り返される。次に工程はステップ722に移り、そこで最終交差領域σfの幾何学的基準中心点が決定される。一般に、最終交差領域は、側の長さが必ずしも等しくなく、隣接する側の間の角度が必ずしも等しくない1つのポリゴンである。幾何学的基準中心点はユーザ定義された基準に従って決定してよい。例えば、ポリゴンが対称性の中心を有するときは、幾何学的基準中心点は対称性の中心として定義してよい。別の例で、対称性の中心がない場合は、幾何学的基準中心点はポリゴンの重心として定義してよい。本明細書では、ポリゴンの幾何学的基準中心点は、ポリゴンの中心とも呼ばれる。σfの幾何学的基準中心点をパラメトリックな点Pf[(C/B)f,(A/B)f]として指定する。次にステップ724でPf[(C/B)f,(A/B)f]は写像により、物理的空間内の線になる。 Af*x+Bf*y+Cf=0 (E2) 出力726は、最初の隣接するf+1個の物理的な点の間の最良適合近似(後に記すさらなる検討を参照せよ)である、直線セグメントを含む直線の式であり、直線セグメントの対応する各基準点からの偏差が、各基準点に付随する許容偏差以下であるようにする。] [0020] 最終直線セグメントによって近似できる物理的な点の全数(T)は、次式で決定される。 [σ2=(σ1∩S2)≠φ;σ3=(σ2∩S3)=φ]→T=3 [σ3=(σ2∩S3)≠φ;σ4=(σ3∩S4)=φ]→T=4 ・・・・・・・・・・・・・・・・・ [f≧2;σf=(σf−1∩Sf)≠φ;σf+1=(σf∩Sf+1)=φ]→T=f+1] [0021] 一実施形態において最良適合の直線セグメントは、比率(偏差nk/Rk)の和が最小になるように決定される。ここで、Rkは物理的な点Pkに対する許容偏差、偏差nkはk番目の点の直線セグメントからの偏差の絶対値であり、和はT個の物理的な点にわたるものである。一般に、最良適合の直線セグメントは、写像により最終的な非ヌル交差領域内のパラメトリックな点になる。一実施形態において、最終的な非ヌル交差領域は最終的な非ヌルポリゴンで近似され、最終的な非ヌルポリゴンの中心は、写像により最良適合の直線セグメントを詳細に近似する直線セグメントになる。この方法は、最良適合の直線に対応するパラメトリックな点を決定することよりも、最終的な非ヌルポリゴンの中心を決定することの方が、数学的に複雑でないので有利である。そのため、必要なコンピュータ資源をより少なくでき、計算速度を増加できる。] [0022] 図4に示す本発明の一実施形態において、パラメトリック座標が(C/B,A/B)であるユーザ定義されたパラメトリック空間内の点が、複数の点のサブグループを1つの直線セグメントで近似するために使用された。別の実施形態において、パラメトリック座標が(C/B,A/B)であるユーザ定義されたパラメトリック空間内の点が、複数の点のサブグループを1つの直線セグメントで近似するために使用され得る。パラメトリック座標(C/B,A/B)は、直線セグメントが水平軸に近い空間構成に対して有利である。同様にパラメトリック座標(C/A,B/A)は、直線セグメントが垂直軸に近い空間構成に対して有利である。一般に、パラメトリック空間内の座標はユーザ定義されたものであり、直角座標である必要はない。例えば、パラメトリック空間内の座標は円柱座標であってよい。] 図4 [0023] 図3A、図3B、図5A、および図5Bは円弧を構成する要素のための例を示す。図3Aには、4つの物理的な点が、物理的な点P1 306(基準点P1 302、および半径R1 304)、物理的な点P2 326(基準点P2 322、および半径R2 324)、物理的な点P3 346(基準点P3 342、および半径R3 344)、物理的な点P4 366(基準点P4 362、および半径R4 364)、の順にある。この例において、最初の3つの物理的な点P1 306、P2 326、P3 346は、円弧の束B1 391で接続されている。円弧A1 381〜円弧A6 386は束 B1 391の外側境界である。束B1 391内の各円弧に対して、各基準点P1 302、P2 322、およびP3 342からの偏差は、各基準点に付随する許容偏差(それぞれ、R1 304、R2 324、およびR3 344)以下である。] 図3A 図3B 図5A 図5B [0024] 図3Bに、4つの物理的な点P1 306、P2 326、P3 346、およびP4 366の同様なシーケンスが示される。この例では、残りの3つの物理的な点P2 326、P3 346、およびP4 366が円弧の束B2 392で接続されている。円弧A7 387〜円弧A12 3812は束B2 392の外側境界である。束B2 392内の各円弧の、各基準点P2 322、P3 342、およびP4 362からの偏差は、各基準点に付随する許容偏差(それぞれ、R2 324、R3 344、およびR4 364)以下である。] 図3B [0025] 本発明の一実施形態において、円弧はユーザ定義されたパラメトリック空間内の単一のパラメトリックな点に写像される。一実施形態において、パラメトリック空間もやはり物理的空間である。すなわち、水平軸(横軸)はX軸101であり、縦軸はY軸103である(図3A、および図3B)。円柱座標のような非直角座標も使用できる。パラメトリックな点は円弧に対応する円の中心点である。本明細書では円弧に対応する円の中心点は円弧の中心と呼ばれる。図5Aは写像の例を示す。図5Aで点PNは抽象的な数学的点を示し、Nは整数である。点P1 501、P2 502、およびP3 503は、中心点V1 511および半径R1 531を有する円弧A1 521で近似される。点P2 502、P3 503、およびP4 504は、中心点V2 512および半径R2 532を有する円弧A2 522で近似される。円弧A1 521はパラメトリックな点V1 511に写像され、円弧A2 522はパラメトリックな点V2 512に写像される。] 図3A 図3B 図5A [0026] 図5Bは、図3Aおよび図3Bに示す幾何学的なプロットに対応するパラメトリックなプロットを示す。図5Bにおいて、各パラメトリックな点は図3Aおよび図3B内の(対応する半径を有する)円弧の中心に対応する。 V1 581←→A1 381 V2 582←→A2 382 V3 583←→A3 383 V4 584←→A4 384 V5 585←→A5 385 V6 586←→A6 386 V7 587←→A7 387 V8 588←→A8 388 V9 589←→A9 389 V10 5810←→A10 3810 V11 5811←→A11 3811 V12 5812←→A12 3812] 図3A 図3B 図5B [0027] 頂点V1 581〜V6 586で定義されるポリゴンS1 5441(図5B)は、物理的な点P1 306、物理的な点P2 326、および物理的な点P3 346を接続する、円弧の束B1 391(図3A)に対応する。すなわち、ポリゴンS1 5441内の各点は、束B1 391内の円弧の中心に対応する。同様に、頂点V7 587〜V12 5812で定義されるポリゴンS2 5442(図5B)は、物理的な点P2 326、物理的な点P3 346、および物理的な点P4 366を接続する、円弧の束B2 392(図3B)に対応する。すなわち、ポリゴンS2 5442内の各点は、束B2 392内の円弧の中心に対応する。図5Bにおいて、重複領域α5443は、ポリゴンS1 5441とポリゴンS2 5442の間の交差を表す。したがって重複領域α5443内のすべての点は物理的な点P1 306、物理的な点P2 326、物理的な点P3 346、および物理的な点P4 366を接続する円弧の中心に対応する。各円弧の、各対応する基準点P1 302、P2 322、P3 342、およびP4 362からの偏差は各基準点(それぞれ、R1 304、R2 324、R3 344、R4 364)に付随する許容偏差以下である。] 図3A 図3B 図5B [0028] 本工程は、(先に図7の流れ図に示した)直線セグメントのステップのシーケンスと同様のステップのシーケンスに従って、追加の隣接する物理的な点に対して繰り返すことが可能である。シーケンシャルな円弧の束に対応するシーケンシャルなポリゴンが、既存の交差領域と次のポリゴンとの交差がヌルになるまで、図5Bに加えられる。 αf∩Sf+1=φ] 図5B 図7 [0029] 次に、最終交差領域αfの幾何学的基準中心点が決定される。αfの幾何学的基準中心点をパラメトリックな点Vf(xf/yf)として指定する。これが最初のT=f+2個の隣接する物理的な点間の最良適合近似の円弧の中心点であり、それによって円弧の各対応する基準点からの偏差が、各基準点に付随する許容偏差以下であるようにする。したがって最小および最大の半径は、各近似点に対し、その許容偏差を使用して定義される。通過点の半径の領域の交差全体がヌルでない場合は、最良適合の円弧が存在し、その半径は半径の範囲の中央値であるとして選択される。[注意:この例では円弧が3点を接続するのでT=f+2であるが、直線セグメントは2点を接続する。]] [0030] 図6は、物理的な点の複雑な順序集合を示す。各物理的な点は、その中心点が対応する基準点であり、半径がそれに付随する許容偏差である、円で表される。上述の方法を実行するコンピュータプログラムは、直線セグメントおよび円弧を接続した配列を含む近似曲線で、物理的な点を接続した。] 図6 [0031] 上述の例は2次元空間に適合するものである。本発明の実施形態は3次元空間に適合され得る。物理的空間内の物理的な点の集合順序集合が入力として与えられる。先に検討したように各物理的な点は、対応する基準点に位置する中心点および付随する許容偏差に対応する半径を有する、球で表され得る。幾何学的要素が、物理的な点の集合から選択された隣接する物理的な点のサブグループを近似するために選択される。幾何学的要素の例には直線セグメントおよび円弧を含むが、適用分野に応じて、より複雑な幾何学的要素も選択され得る。隣接する物理的な点のサブグループを接続するために、幾何学的要素の束が生成される。(束内の)各幾何学的要素の対応する各基準点からの偏差は、各基準点に付随する許容偏差以下である(各基準点に付随する許容偏差より大きくない)。] [0032] 各幾何学的要素は、パラメトリック空間内のパラメトリックな点に写像され、各幾何学的要素の束はパラメトリック空間内の領域に写像される。パラメトリック空間が物理的空間であることもある。本発明の一実施形態において、3次元領域はポリへドロンで近似され、ポリへドロン内のすべての点はパラメトリック空間内のパラメトリックな点のマニホルドのメンバである。2次元の場合と同様に、束のシーケンスが生成される。各束は物理的な点のシーケンシャルなサブグループを接続する。各束は、パラメトリック空間内のポリへドロンに写像される。第1の束は第1のポリへドロンに写像される。第2の束は第2のポリへドロンに写像される。第1のポリへドロンと第2のポリへドロンが交差すると、その交差領域は第1の交差ポリへドロンと呼ばれる。第1の交差ポリへドロン内の点は写像により幾何学的要素の集合になり、それは最初の2つの物理的な点が結合されたサブグループ内の物理的な点のシーケンスを近似するものである。第1の交差ポリへドロンの中心は写像により、結合された最初の2つのサブグループ内の物理的な点を接続する、幾何学的要素の最良適合近似になる。] [0033] 本工程は繰り返し可能である。第3の束は第3のポリへドロンに写像される。第3のポリへドロンが第1の交差ポリへドロンと交差する場合、新しい交差領域は第2の交差ポリへドロンと呼ばれる。第2の交差ポリへドロン内の点は写像により、結合された最初の3つの物理的な点のサブグループ内の物理的な点の集合を近似する、幾何学的要素の集合になる。第2の交差ポリへドロンの中心は写像により、最初の3つのサブグループ内の物理的な点を接続する、幾何学的要素の最良適合近似になる。この繰り返しは次の条件のうちの1つが成立するまで続けられる。(a)現在の非ヌル交差ポリへドロンと(写像により次の束になる)次のポリへドロンとの交差がヌルである場合、または(b)すべての物理的な点が処理された場合。最終の非ヌル交差ポリへドロンの中心は写像により、最終非ヌル交差ポリへドロンに写像された結合されたサブグループ内の物理的な点を接続する、幾何学的要素の最良適合近似になる。結合されたサブグループ内の各対応する基準点からの、幾何学的要素の最良適合近似の偏差は、各基準点に付随する許容偏差以下である(各基準点に付随する許容偏差よりも大きくない)。] [0034] 本明細書で「ポリトープ」という用語は、2次元空間内でポリゴンを、3次元空間内でポリへドロンをいう。] [0035] 異なる幾何学的要素が逐次的に使用され得ることに注意されたい。例えば曲線経路は、ほぼ直線部分に沿った直線セグメントと、曲線部分に沿った円弧で近似され得る。] [0036] 本発明の実施形態はコンピュータで実施され得る。図8に示すように、コンピュータ802は、中央処理装置CPU804、メモリ808、データ記憶装置806、およびユーザ入/出力インターフェイス810を含む、任意の型式のよく知られたコンピュータであってよい。データ記憶装置806は、ハード・ドライブ、不揮発性メモリ、またはその他の(磁気ディスク、またはコンパクトディスク読み出し専用メモリのような)コンピュータ可読媒体を含んでよい。ユーザ入/出力インターフェイス810は、キーボードまたはマウスなどのユーザ入/出力装置820への接続部を含んでよく、それによってユーザはコンピュータ802との相互作用が可能になる。] 図8 [0037] よく知られているように、コンピュータは、コンピュータの全体的なオペレーションとアプリケーションを規定するコンピュータソフトウェアの制御下で動作する。CPU804は、全体的なオペレーションおよびアプリケーションを規定するコンピュータプログラムの命令を実行することにより、コンピュータの全体的なオペレーションおよびアプリケーションを制御する。コンピュータプログラム命令は、データ記憶装置806内に記憶され、プログラムの命令実行が望まれるときにメモリ808内にロードされる。図7の方法ステップは、コンピュータプログラム命令によって規定され、メモリ808内またはデータ記憶装置806内(またはメモリ808とデータ記憶装置806の組合せ内)に記憶され、コンピュータプログラム命令を実行するCPU804によって制御される。例えば、図7の方法ステップを実施するアルゴリズムを遂行するために、コンピュータプログラム命令は、当業者によってプログラムされたコンピュータで実行可能なコードとして実施され得る。したがってCPU804は、コンピュータプログラム命令を実行することにより、図7の方法ステップを実施するアルゴリズムを実行する。] 図7 [0038] コンピュータ802はさらに、CPU804からの信号を、ビデオディスプレイ826を駆動し得る信号に変換するビデオディスプレイ・インターフェイス816を含んでよい。コンピュータ802はさらに、1つまたは複数のネットワーク・インターフェイスを含んでよい。例えば、通信ネットワーク・インターフェイス818は、インターネットプロトコル(IP)通信ネットワーク828への接続部を含んでよく、それはユーザ、制御、およびテストトラフィックを輸送可能である。通信ネットワーク・インターフェイス818は、有線、無線、および光ファイバを含む様々な物理的インターフェイスを含み得る。コンピュータ802はさらに、外部データ記憶インターフェイス814を含み得る。アルゴリズムによって解析された結果は、外部データ記憶インターフェイス814を通して輸送され、外部データ記憶ユニット824内に記憶され得る。当業者は、現実のコンピュータでの実行には、さらに他の構成要素も含み得ること、および図8は例示目的のために、コンピュータのいくつかの構成要素を高いレベルで表現したものであることを認識するであろう。] 図8 [0039] 図9Aおよび9Bは、本発明の一実施形態による車両を自動誘導する方法を例示するものである。図9Aにおいて、全地球測位システム(GPS)受信機980はユーザ指定された経路(道路のような)に沿って増分しながら移動して、物理的な点P1 902〜P22 944を含む物理的な点の座標(901)の順序集合を記録する。図9Bにおいて、物理的な点901の順序集合がコンピュータ802にアップロードされる。一実施形態において、データはGPS受信機980から無線インターフェイスを経てコンピュータ802に送信され得る。別の実施形態において、データはGPS受信機980に保存され、ローカルユーザ入/出力インターフェイス810、または遠隔通信ネットワーク・インターフェイス818(図8)を通して、コンピュータ802に転送され得る。コンピュータ802は、本発明の一実施形態に従って、アルゴリズムのステップを遂行するためにコンピュータ命令を実行する。コンピュータ802は入力された物理的な点901の順序集合を、物理的な点901の順序集合を近似する幾何学的要素903の出力シーケンスに変換する。この例では、幾何学的要素のシーケンス903は直線セグメントL1 905、直線セグメントL2 907、円弧A1 909、直線セグメントL3 911、円弧 A2 913、および直線セグメントL4 915を含む。] 図8 図9A 図9B [0040] 次に幾何学的要素903のシーケンスが、車両984に搭載されている誘導制御システム982にダウンロードされる。一実施形態において、データはコンピュータ802から無線インターフェイスを経て、誘導制御システム982に転送される。当業者は別のシステム構成を実現してよい。例えば、GPS受信機980、コンピュータ802、および誘導制御システム982は、車両984に搭載された単一のシステムに統合されてよい。誘導経路931に沿って車両984を自動操縦する誘導制御システム982は、操縦システムを制御し、車両は物理的な点901の集合順序集合を通過する。自動誘導された車両は様々な応用に使用され得る。例えば、車両984は道路整地に使用されるドーザであってよい。別の例として、カメラシステムを車両984に搭載してよく、それは自動検査用に使用される。] [0041] 上述した「発明を実施するための形態」は、それぞれの事項において例示的、代表的なものであって、限定するものではなく、本明細書に開示された本発明の範囲は、「発明を実施するための形態」から決められるものではなく、特許法によって許可された全幅に従って記述された特許請求の範囲によって決定されるものと理解されるべきである。本明細書に示され、説明された実施形態は、本発明の原理を単に例示したものであって、本発明の範囲と精神から逸脱することなく、当業者によって様々な修正が実施され得るものと理解されるべきである。当業者は、本発明の範囲と精神から逸脱することなく、様々な別の特徴の組合せを実施することができる。]
权利要求:
請求項1 各物理的な点が基準点と付随する許容偏差とを含む、物理的空間内の物理的な点の順序集合を近似するための方法において、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第1のサブグループを接続する幾何学的要素の第1の束を生成するステップであって、前記第1の束内の各幾何学的要素の、前記第1のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第1のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第1の束をパラメトリック空間内の第1のポリトープに写像するステップであって、前記第1の束内の各幾何学的要素が前記第1のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップと、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第2のサブグループを接続する幾何学的要素の第2の束を生成するステップであって、前記第2の束内の各幾何学的要素の、前記第2のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第2のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第2の束を前記パラメトリック空間内の第2のポリトープに写像するステップであって、前記第2の束内の各幾何学的要素が前記第2のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップとを含む方法。 請求項2 前記第1のポリトープと前記第2のポリトープとの間の第1の交差領域を決定するステップと、前記第1の交差領域がヌルの場合は、前記第1のポリトープの中心を決定するステップと、前記第1のポリトープの前記中心を対応する幾何学的要素に写像するステップとを、前記第1の交差領域がヌルでない場合は、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第3のサブグループを接続する幾何学的要素の第3の束を生成するステップであって、前記第3の束内の各幾何学的要素の、前記第3のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第3のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第3の束を前記パラメトリック空間内の第3のポリトープに写像するステップであって、前記第3の束内の各幾何学的要素が前記第3のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップとをさらに含む、請求項1に記載の方法。 請求項3 前記第1の交差領域と前記第3のポリトープとの間の第2の交差領域を決定するステップと、前記第2の交差領域がヌルの場合は、前記第1の交差領域の中心を決定するステップと、前記第1の交差領域の前記中心を対応する幾何学的要素に写像するステップとを、前記第2の交差領域がヌルでない場合は、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第4のサブグループを接続する幾何学的要素の第4の束を生成するステップであって、前記第4の束内の各幾何学的要素の、前記第4のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第4のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第4の束を前記パラメトリック空間内の第4のポリトープに写像するステップであって、前記第4の束内の各幾何学的要素が前記第4のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップとをさらに含む、請求項2に記載の方法。 請求項4 前記ポリトープがポリへドロンである、請求項1に記載の方法。 請求項5 前記ポリトープがポリゴンである、請求項1に記載の方法。 請求項6 幾何学的要素の第1の束を生成する前記ステップが、直線セグメントの第1の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A1*x+B1*y+C1=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここでxおよびyは2次元物理的空間内の直交軸であり、(A1,B1,C1)は前記第1の束内の対応する線形係数の特定の集合であるステップを含み、前記第1の束を第1のポリトープに写像する前記ステップが前記第1の束内の各特定の直線セグメントを、前記パラメトリック空間内の座標(C1/B1,A1/B1)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップを含み、幾何学的要素の第2の束を生成する前記ステップが、直線セグメントの第2の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A2*x+B2*y+C2=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここで(A2,B2,C2)は前記第2の束内の線形係数の特定の集合であるステップを含み、前記第2の束を第2のポリトープに写像する前記ステップが、前記第2の束内の各特定の直線セグメントを、座標(C2/B2,A2/B2)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップを含む、請求項1に記載の方法。 請求項7 幾何学的要素の第1の束を生成する前記ステップが、直線セグメントの第1の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A1*x+B1*y+C1=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここでxおよびyは2次元物理的空間内の直交軸であり、(A1,B1,C1)は前記第1の束内の対応する線形係数の特定の集合であるステップを含み、前記第1のポリトープに前記第1の束を写像するステップが前記第1の束内の各特定の直線セグメントを、パラメトリック空間内の座標(C1/A1,B1/A1)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップを含み、幾何学的要素の第2の束を生成する前記ステップが、直線セグメントの第2の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A2*x+B2*y+C2=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここで(A2,B2,C2)は前記第2の束内の線形係数の特定の集合であるステップを含み、前記第2の束を第2のポリトープに写像する前記ステップが、前記第2の束内の各特定の直線セグメントを、座標(C2/A2,B2/A2)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップを含む、請求項1に記載の方法。 請求項8 幾何学的要素の第1の束を生成する前記ステップが、円弧の第1の束を生成するステップであって、前記第1の束内の各円弧が対応する中心点および対応する半径を有するステップを含み、前記第1の束を第1のポリトープに写像する前記ステップが、前記円弧の第1の束内の各特定の円弧を、前記特定の円弧に対応する特定の中心点に写像するステップを含み、幾何学的要素の第2の束を生成する前記ステップが、円弧の第2の束を生成するステップであって、前記第2の束内の各円弧が対応する中心点および対応する半径を有するステップを含み、前記第2の束を第2のポリトープに写像する前記ステップが、前記円弧の第2の束内の各特定の円弧を、前記特定の円弧に対応する特定の中心点に写像するステップを含む、請求項1に記載の方法。 請求項9 各物理的な点が基準点と付随する許容偏差とを含む、物理的空間内の物理的な点の順序集合を近似するための装置において、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第1のサブグループを接続する幾何学的要素の第1の束を生成するための手段であって、前記第1の束内の各幾何学的要素の、前記第1のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第1のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えない手段と、前記第1の束をパラメトリック空間内の第1のポリトープに写像するための手段であって、前記第1の束内の各幾何学的要素が前記第1のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像される手段と、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第2のサブグループを接続する幾何学的要素の第2の束を生成するための手段であって、前記第2の束内の各幾何学的要素の、前記第2のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第2のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えない手段と、前記第2の束を前記パラメトリック空間内の第2のポリトープに写像するための手段であって、前記第2の束内の各幾何学的要素が前記第2のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像される手段とを含む装置。 請求項10 前記第1のポリトープと前記第2のポリトープとの間の第1の交差領域を決定するための手段と、前記第1のポリトープの中心を決定するための手段と、前記第1のポリトープの前記中心を対応する幾何学的要素に写像するための手段と、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第3のサブグループを接続する幾何学的要素の第3の束を生成するための手段であって、前記第3の束内の各幾何学的要素の、前記第3のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第3のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えない手段と、前記第3の束を前記パラメトリック空間内の第3のポリトープに写像するための手段であって、前記第3の束内の各幾何学的要素が前記第3のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像される手段とをさらに含む、請求項9に記載の装置。 請求項11 前記第1の交差領域と前記第3のポリトープとの間の第2の交差領域を決定するための手段と、前記第1の交差領域の中心を決定するための手段と、前記第1の交差領域の前記中心を対応する幾何学的要素に写像するための手段と、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第4のサブグループを接続する幾何学的要素の第4の束を生成するための手段であって、前記第4の束内の各幾何学的要素の、前記第4のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第4のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えない手段と、前記第4の束を前記パラメトリック空間内の第4のポリトープに写像するための手段であって、前記第4の束内の各幾何学的要素が前記第4のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像される手段とをさらに含む、請求項10に記載の装置。 請求項12 直線セグメントの第1の束を生成するための手段であって、各特定の直線セグメントが式A1*x+B1*y+C1=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここでxおよびyは2次元物理的空間内の直交軸であり、(A1,B1,C1)は前記第1の束内の対応する線形係数の特定の集合である手段と、前記第1の束内の各特定の直線セグメントを、前記パラメトリック空間内の座標(C1/B1,A1/B1)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像する手段と、直線セグメントの第2の束を生成する手段であって、各特定の直線セグメントが式A2*x+B2*y+C2=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここで(A2,B2,C2)は前記第2の束内の線形係数の特定の集合である手段と、前記第2の束内の各特定の直線セグメントを、座標(C2/B2,A2/B2)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像する手段とをさらに含む、請求項9に記載の装置。 請求項13 直線セグメントの第1の束を生成するための手段であって、各特定の直線セグメントが式A1*x+B1*y+C1=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここでxおよびyは2次元物理的空間内の直交軸であり、(A1,B1,C1)は前記第1の束内の対応する線形係数の特定の集合である手段と、前記第1の束内の各特定の直線セグメントを、前記パラメトリック空間内の座標(C1/A1,B1/A1)の特定の集合で定義された、特定のパラメトリックな点に写像する手段と、直線セグメントの第2の束を生成する手段であって、各特定の直線セグメントが式A2*x+B2*y+C2=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここで(A2,B2,C2)は前記第2の束内の線形係数の特定の集合である手段と、前記第2の束内の各特定の直線セグメントを、座標(C2/A2,B2/A2)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像する手段とをさらに含む、請求項9に記載の装置。 請求項14 円弧の第1の束を生成するための手段であって、前記第1の束内の各円弧が対応する中心点および対応する半径を有する手段と、前記円弧の第1の束内の各特定の円弧を、前記特定の円弧に対応する特定の中心点に写像するための手段と、円弧の第2の束を生成するための手段であって、前記第2の束内の各円弧が対応する中心点および対応する半径を有する手段と、前記円弧の第2の束内の各特定の円弧を、前記特定の円弧に対応する特定の中心点に写像するための手段とをさらに含む、請求項9に記載の装置。 請求項15 各物理的な点が基準点と付随する許容偏差とを含む、物理的空間内の物理的な点の順序集合を近似するためのコンピュータ命令を記憶するコンピュータ可読媒体において、前記コンピュータ命令が、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第1のサブグループを接続する幾何学的要素の第1の束を生成するステップであって、前記第1の束内の各幾何学的要素の、前記第1のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第1のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第1の束をパラメトリック空間内の第1のポリトープに写像するステップであって、前記第1の束内の各幾何学的要素が前記第1のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップと、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第2のサブグループを接続する幾何学的要素の第2の束を生成するステップであって、前記第2の束内の各幾何学的要素の、前記第2のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第2のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第2の束を前記パラメトリック空間内の第2のポリトープに写像するステップであって、前記第2の束内の各幾何学的要素が前記第2のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップとを規定する、コンピュータ可読媒体。 請求項16 前記コンピュータプログラム命令が、前記第1のポリトープと前記第2のポリトープとの間の第1の交差領域を決定するステップと、前記第1の交差領域がヌルの場合は、前記第1のポリトープの中心を決定するステップと、前記第1のポリトープの前記中心を対応する幾何学的要素に写像するステップとを、前記第1の交差領域がヌルでない場合は、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第3のサブグループを接続する幾何学的要素の第3の束を生成するステップであって、前記第3の束内の各幾何学的要素の、前記第3のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第3のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第3の束を前記パラメトリック空間内の第3のポリトープに写像するステップであって、前記第3の束内の各幾何学的要素が前記第3のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップとを規定するコンピュータプログラム命令をさらに含む、請求項15に記載のコンピュータ可読媒体。 請求項17 前記コンピュータプログラム命令が、前記第1の交差領域と前記第3のポリトープとの間の第2の交差領域を決定するステップと、前記第2の交差領域がヌルの場合は、前記第1の交差領域の中心を決定するステップと、前記第1の交差領域の前記中心を対応する幾何学的要素に写像するステップとを、前記第2の交差領域がヌルでない場合は、前記物理的な点の順序集合から選択された物理的な点の第4のサブグループを接続する幾何学的要素の第4の束を生成するステップであって、前記第4の束内の各幾何学的要素の、前記第4のサブグループ内の各基準点からの偏差が、前記第4のサブグループ内の各基準点に付随する許容偏差を超えないステップと、前記第4の束を前記パラメトリック空間内の第4のポリトープに写像するステップであって、前記第4の束内の各幾何学的要素が前記第4のポリトープ内の対応するパラメトリックな点に写像されるステップとを規定するコンピュータプログラム命令をさらに含む、請求項16に記載のコンピュータ可読媒体。 請求項18 前記コンピュータプログラム命令が、直線セグメントの第1の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A1*x+B1*y+C1=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここでxおよびyは2次元物理的空間内の直交軸であり、(A1,B1,C1)は前記第1の束内の対応する線形係数の特定の集合であるステップと、前記第1の束内の各特定の直線セグメントを、前記パラメトリック空間内の座標(C1/B1,A1/B1)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップと、直線セグメントの第2の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A2*x+B2*y+C2=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここで(A2,B2,C2)は前記第2の束内の線形係数の特定の集合であるステップと、前記第2の束内の各特定の直線セグメントを、座標(C2/B2,A2/B2)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップとを規定するコンピュータプログラム命令をさらに含む、請求項15に記載のコンピュータ可読媒体。 請求項19 前記コンピュータプログラム命令が、直線セグメントの第1の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A1*x+B1*y+C1=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここでxおよびyは2次元物理的空間内の直交軸であり、(A1,B1,C1)は前記第1の束内の対応する線形係数の特定の集合であるステップと、前記第1の束内の各特定の直線セグメントを、前記パラメトリック空間内の座標(C1/A1,B1/A1)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップと、直線セグメントの第2の束を生成するステップであって、各特定の直線セグメントが式A2*x+B2*y+C2=0で定義される特定の線に対応するセグメントであり、ここで(A2,B2,C2)は前記第2の束内の線形係数の特定の集合であるステップと、前記第2の束内の各特定の直線セグメントを、座標(C2/A2,B2/A2)の特定の集合で定義された特定のパラメトリックな点に写像するステップとを規定するコンピュータプログラム命令をさらに含む、請求項15に記載のコンピュータ可読媒体。 請求項20 前記コンピュータプログラム命令が、円弧の第1の束を生成するステップであって、前記第1の束内の各円弧が対応する中心点および対応する半径を有するステップと、前記円弧の第1の束内の各特定の円弧を、前記特定の円弧に対応する特定の中心点に写像するステップと、円弧の第2の束を生成するステップであって、前記第2の束内の各円弧が対応する中心点および対応する半径を有するステップと、前記円弧の第2の束内の各特定の円弧を、前記特定の円弧に対応する特定の中心点に写像するステップとを規定するコンピュータプログラム命令をさらに含む、請求項15に記載のコンピュータ可読媒体。
类似技术:
公开号 | 公开日 | 专利标题 Keller et al.2013|Real-time 3d reconstruction in dynamic scenes using point-based fusion Baltsavias et al.2001|Radiometric and geometric evaluation of Ikonos GEO images and their use for 3D building modelling Lavest et al.1998|Do we really need an accurate calibration pattern to achieve a reliable camera calibration? Treibitz et al.2011|Flat refractive geometry Bartoli et al.2005|Structure-from-motion using lines: Representation, triangulation, and bundle adjustment Smisek et al.2013|3D with Kinect CN102763132B|2015-03-25|三维测量设备和处理方法 US7453456B2|2008-11-18|System and method of three-dimensional image capture and modeling Haralick et al.1994|Review and analysis of solutions of the three point perspective pose estimation problem US20140314308A2|2014-10-23|Three-dimensional point cloud position data processing device, three-dimensional point cloud position data processing system, and three-dimensional point cloud position data processing method and program US8792726B2|2014-07-29|Geometric feature extracting device, geometric feature extracting method, storage medium, three-dimensional measurement apparatus, and object recognition apparatus Salvi et al.2002|A comparative review of camera calibrating methods with accuracy evaluation US5945996A|1999-08-31|System and method for rapidly generating an optimal mesh model of a 3D object or surface US7928977B2|2011-04-19|Image compositing method and apparatus for superimposing a computer graphics image on an actually-sensed image US7565216B2|2009-07-21|Clearance measurement of manufactured parts US7330197B2|2008-02-12|Mixed reality exhibiting method and apparatus EP2073172B1|2016-04-20|Image processing apparatus Lee et al.2013|Skeleton-based 3D reconstruction of as-built pipelines from laser-scan data US7092109B2|2006-08-15|Position/orientation measurement method, and position/orientation measurement apparatus US8265343B2|2012-09-11|Apparatus, method and program for distance measurement Luhmann2010|Close range photogrammetry for industrial applications US5886702A|1999-03-23|System and method for computer modeling of 3D objects or surfaces by mesh constructions having optimal quality characteristics and dynamic resolution capabilities US20110206274A1|2011-08-25|Position and orientation estimation apparatus and position and orientation estimation method Gremban et al.1988|Geometric camera calibration using systems of linear equations US8711143B2|2014-04-29|System and method for interactive image-based modeling of curved surfaces using single-view and multi-view feature curves
同族专利:
公开号 | 公开日 EP2176835B9|2017-04-26| EP2176835A1|2010-04-21| CA2685352A1|2009-07-30| EP2176835B1|2017-02-15| WO2009094117A1|2009-07-30| US20090184965A1|2009-07-23| JP5323863B2|2013-10-23| US8264483B2|2012-09-11|
引用文献:
公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
法律状态:
2012-01-19| A621| Written request for application examination|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120118 | 2012-07-11| RD04| Notification of resignation of power of attorney|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120710 | 2013-02-25| A977| Report on retrieval|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130225 | 2013-03-01| A131| Notification of reasons for refusal|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130228 | 2013-05-31| A521| Written amendment|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130530 | 2013-06-17| TRDD| Decision of grant or rejection written| 2013-06-21| A01| Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130620 | 2013-07-25| A61| First payment of annual fees (during grant procedure)|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130717 | 2013-07-26| R150| Certificate of patent or registration of utility model|Ref document number: 5323863 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 | 2016-08-02| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 | 2017-06-13| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 | 2018-07-17| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 | 2019-07-16| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 | 2020-07-09| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 | 2021-07-16| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
优先权:
[返回顶部]
申请号 | 申请日 | 专利标题 相关专利
Sulfonates, polymers, resist compositions and patterning process
Washing machine
Washing machine
Device for fixture finishing and tension adjusting of membrane
Structure for Equipping Band in a Plane Cathode Ray Tube
Process for preparation of 7 alpha-carboxyl 9, 11-epoxy steroids and intermediates useful therein an
国家/地区
|